研究C60-金属相互作用的一种新方法

研究C₆₀-金属相互作用的一种新方法

赵文兵¹, 吴军桥¹, 陈军¹, 吴克¹, 张金龙¹, 李传义¹, 尹道乐¹, 顾镇南², 周锡煌², 金朝霞²

¹北京大学物理学系，北京，100871；²北京大学化学系，北京，100871

收稿日期:1995-05-30 出版日期:1996-01-20 发布日期:1996-01-20

A New Approach to Probe the Interactions between C₆₀ and Non-Alkali-Metals

ZHAO Wenbing¹, WU Junqiao¹, CHEN Jun¹, WU Ke¹, ZHANG Jinlong¹, LI Chuanyi¹, YIN Daole¹, GU Zhennan², ZHOU Xihuang², JIN Zhaoxia²

¹Department of Physics, Peking University, Beijing 100871; ²Department of Chemistry, Peking University, Beijing, 100871

Received:1995-05-30 Online:1996-01-20 Published:1996-01-20

摘要/Abstract

摘要： 通过在超薄金属层上蒸镀C₆₀时的电阻原位测量，我们发现在平均厚度约一个C₆₀单层范围内样品电阻有明显可观测的变化，电阻变化的方向和幅度与金属层厚度以及金属材料的种类有关。这一新的现象揭示出有可能利用宏观物理性质测量来间接研究C₆₀-金属界面相互作用，从而对常规微观谱测量的结果给出旁证和补充。

关键词: 薄膜, 界面相互作用, 电阻测量

Abstract: By measuring the resistance in situ during the deposition of C₆₀ on ultrathin metal layers at UHV system, we find that the change of sample resistance is universal and it is very sensitive to the thickness of the precusor metal films and the characteristics of the employed metal materials. This sensitivity of resistance change in metal-C₆₀ multilayers (bilayers) may be related to the charge transfer of metal to C₆₀ and surface bonding effects, hence can be used as a newpossible approach to probe the interfacial interactions between C₆₀ and metals.

Key words: thin film, interfacial interaction, resistance measurement

中图分类号:

赵文兵, 吴军桥, 陈军, 吴克, 张金龙, 李传义, 尹道乐, 顾镇南, 周锡煌, 金朝霞 . 研究C₆₀-金属相互作用的一种新方法[J]. 北京大学学报（自然科学版）.

ZHAO Wenbing,WU Junqiao,CHEN Jun,WU Ke,ZHANG Jinlong,LI Chuanyi,YIN Daole,GU Zhennan,ZHOU Xihuang,JIN Zhaoxia. A New Approach to Probe the Interactions between C₆₀ and Non-Alkali-Metals[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis.

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