用扫描电容显微镜(SCM)研究金基底上的铝纳米粒子

用扫描电容显微镜(SCM)研究金基底上的铝纳米粒子

刘赛锦,侯士敏,申自勇,张琦锋,郭等柱,薛增泉

Study of Al Nanoparticles on Au Substrate with Scanning Capacitance Microscopy

LIU Saijin,HOU Shimin,SHEN Ziyong,ZHANG Qifeng,GUO Dengzhu,XUE Zengquan

北京大学学报（自然科学版） . 2002, (3): 364 -368 .