摘要: 随着半导体器件特征尺寸的缩小,半导体器件模型也变得越来越复杂,模型参数个数急骤增加,目标函数自变量空间的维数也变得越来越大,传统的一些基于梯度的参数提取方法已经不能很好地解决问题。遗传算法是一种应用基因工程和人工智能模拟的优化算法,近年来在半导体器件模型参数提取领域被广泛使用,这种方法能有效地克服传统参数提取方法中的一些困难。详细阐述了采用遗传算法提取半导体器件模型参数的原理,同时也指出了采用这种方法提取模型参数时的缺点和目前的一些解决方法。
中图分类号:
吴涛,杜刚,刘晓彦,韩汝琦. 基于遗传算法的半导体器件模型参数提取[J]. 北京大学学报(自然科学版).
WU Tao,DU Gang,LIU XiaoyanHAN Ruqi. Semiconductor Device Model Parameter Extraction Based on Genetic Algorithm[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis.