摘要: 在场发射显微镜(FEM)中使用1万伏以上的电压对钨针尖进行了放电处理。扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)的观察表明在处理后形成了纳米尺寸的突起。从经过处理的钨针尖能够支取高达1.55mA的场发射电流。针尖的场发射像呈现四重对称,表明它来自单个突起。场发射电流与电压关系符合Fowler-Nordheim (F-N)理论。根据F-N理论算得的场发射面积与TEM下观察到的突起的面积在量级上一致。
中图分类号:
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