林鸿生
LIN Hongsheng
摘要: 基于实验结果,应用Scharfetter-Gummel解法数值求解Poisson方程,对经高强度光辐照过的a-Si∶H Schottky势垒结构太阳能电池进行计算机数值分析。计算结果与实验一致并且进一步指明,随着光辐照发生的载流子俘获造成的a-Si∶H中空间电荷净增加或减少都会使电池内部电场分布发生变化和准中性区(低场“死层”)的出现,从而导致载流子收集长度的减少。这是a-Si∶H Schottky势垒结构太阳能电池光致性能衰退的重要原因。于是,一种提高a-Si∶H太阳能电池稳定性的新途径有可能被提出。
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