用比例差分方法从NMOSFET输出特性提取界面陷阱密度

张贺秋, 许铭真, 谭长华

Extracting the Interface Trap Density Using the Proportional Difference Method from the Output Characteristic of NMOSFET

ZHANG Heqiu,XU Mingzhen,TAN Changhua

北京大学学报（自然科学版） . 2004, (3): 417 -423 .