摘要:
基于已有的传输线脉冲发生器(TLP)与IEC 61000-4-2应力的等效关系, 提出一种以TLP应力作为输入的系统级模型分析方法。与传统的IEC应力作为系统输入的分析方法相比, 该方法解决了对流入待测器件(DUT)残余能量的计算不够精确的问题, 同时提高了DUT失效预测方面的精准性。通过SPICE仿真, 预测了上述两种应力作为系统输入的DUT失效情况。通过相应的印制电路板(PCB)的实测验证, 进一步说明新提出的方法能够提高系统级失效预测的精准性。
中图分类号:
王艺泽, 王源, 曹健, 张兴. 一种基于TLP输入的系统级ESD模型分析方法[J]. 北京大学学报(自然科学版), 2018, 54(2): 293-298.
WANG Yize, WANG Yuan, CAO Jian, ZHANG Xing. An Analysis Method of System-Level ESD Model with a TLP Stress Input[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis, 2018, 54(2): 293-298.